Bibliografia UJ CM




Zapytanie: SIMS XVII 17TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY TOR
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wersja do druku | | | Nowe wyszukiwanie
1/1
Autorzy: P. Konarski, K. Kaczorek, I. Iwanejko, A. Zawada, J[anusz] Haluszka, M[onika] Scibor, B[artosz] Balcerzak.
Tytuł oryginału: SIMS depth profile analysis of particles collected in urban environment.
Tytuł całości: W: SIMS XVII : 17th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Toronto, Kanada, 13-18.09.2009
Opis fizyczny: abstr. 198.
Charakt. formalna: SZZ
Charakt. OPI: AWZ
Praca afiliowana przez UJ CM
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka Medyczna UJ